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二、详细说明：
一．产品使用简述：
LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA待删除信息可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。
二．产品适用的测试仪器的品牌：
适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。
三：产品品质保证：
我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA待删除信息采用国际著名半导体厂商生产的专用待删除信息体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
企业Q Q：2850627133
工厂地址：广东省深圳市宝安区石岩镇园岭大道巧通园岭工业园B栋5楼
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二．产品适用的测试仪器的品牌：
适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMU55、E5515C、E8285A、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。
三：产品品质保证：
我们公司的LTE测试卡、4G测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA待删除信息采用国际著名半导体厂商生产的专用待删除信息体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
企业Q Q：2850627133
工厂地址：广东省深圳市宝安区石岩镇园岭大道巧通园岭工业园B栋5楼
