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介质损耗因数

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更新: 2021-11-06 15:10
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公司基本资料信息
 
 
介质损耗因数
LDJD-B型介质损耗因数测试仪在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特阻抗等。
适用标准
GB/T1409-2006《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法》(等效IEC60250:1969)
GB/T1693-2007《硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法》
ASTMD150《StandardTestMethodsforACLossCharacteristicsandPermittivity(DielectricConstant)ofSolidElectricalInsulation》
LDJD-B型介质损耗因数测试仪主要参数:
*1.信号源:DDS数字合成信号10kHZ-70MHZ
*2.信号源频率精度3×10-5±1个字,6位有效数
3.Q值测量范围:1~1023
4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
*5.电感测量范围:1nH~8.4H自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6.电容直接测量范围:1pF~2.5uF
*7.主电容调节范围:30~540pF
8.准确度150pF以下±1pF;150pF以上±1%
9.信号源频率覆盖范围10kHz~70MHz
10.合格指示预置功能范围:5~1000
11.环境温度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13.S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:
https://www.chem17.com/st397761/product_31870527.html
http://www.htweichuang.com/SonList-1855497.html
 
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