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ThermoTest TS-790高低温冲击机,整机噪音 < 70 dBA, 不需要额外安装空压机即可完成各类芯片的高低温冲击试验. 特别适用于对环境噪音有严格要求的写字楼园区或研发环境, 除了机动*方便移动外, 更可省去您重新评估空压系统及配管的时间及人力成本, 完美解决了因为环境受限无法提供压缩气体的芯片高低温测试难题.
ThermoTest TS-790高低温冲击机特*：
自动升降温，不需要液态氮气(N2)或液态二氧化碳(CO2)冷却。
旋钮式控制面板
过热温度保护：出厂设置温度 +225°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点。
加热模式下,冷冻机可切换成待机模式, 以减少电力消耗
2种检测模式 Air Mode 和 DUT Mode(温度传感器：T型或K型热电偶)
远程接口: IEEE.488, RS232
LabViewTM 驱动
支持测试数据存储
热流罩提供局限*的温度测试环境，防止水气在DUT上凝结
CE相容 不含CFC：inTEST-Temptronic ATS-535 高低温测试机选用的制冷剂不含氟利昂、安全无毒、不易燃，有效保护环境
ThermoTest TS-790高低温冲击机参数
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高低温冲击范围 |
-90 ºC 至 + 300 ºC |
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变温速率 |
-55 ºC 至 + 125 ºC，约10秒 |
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系统气流输出* |
4 ~ 18 SCFM（1.9 L/s ~ 8.5 L/s）；可选：4 ~ 24 SCFM（1.9 L/s ~ 11.3 L/s） |
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语言 |
中文/英文 |
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检测模式 |
Air，DUT |
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温度控制 |
内部：TC，远程/外部：T， K |
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通讯接口 |
RS-232，可选：LAN GPIB |
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电源 |
220VAC，1PH，50Hz，32A |
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工作温度 |
+15 ºC 至 + 25 ºC |
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湿度 |
20%至65% |
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尺寸 |
610mm*950mm*1060mm（长*宽*高） |
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重量 |
225Kg |
ThermoTest TS-790高低温冲击机典型应用:
特*分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠*试验，如：
半导体芯片
闪存Flash/EMMC
PCBs、IC器件、MCMs、小型模块组件
光通讯（如收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等
ThermoTest TS-790高低温冲击机测试过程
1. 将待测芯片放置于已做好的工装中.
2. 将 sensor 一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触
3. 将 ThermoTest TS-790热流罩转到工装平台并下压固定
4. 启动 ThermoTest TS-790 高低温冲击机加热至需要测试的温度点
5. 启动芯片测试设备对芯片在 -55度及 +125度下进行*能测试并记录数据
