3D光学干涉轮廓仪

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>NanoX-2000/3000系列3D光学干涉轮廓仪建立在移相干涉测量（PSI）、白光垂直扫描干涉测量（VSI）和单色光垂直扫描干涉测量（CSI）等技术的基础上，以其纳米级测量准确度和重复（稳定）定量地反映出被测件的表面粗糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>NanoX-2000/3000系列3D光学干涉轮廓仪优势

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;>  

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>➢美国硅谷研发的核心技术和系统软件

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>➢关键硬件采用美国、德国、日本等品牌

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>seline;background:transparent;>➢PI纳米移动平台及控制系统

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>seline;background:transparent;>➢Nikon干涉物镜

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>seline;background:transparent;>➢NI信号控制板和Labview64控制软件

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>seline;background:transparent;>➢TMC光学隔振台

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>➢测量准确度重复达到高级水平(中国计量科学研究院)

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>更多详情咨询：

seline;background:#FFFFFF;color:#333333;tt-indent:0px;> seline;background:transparent;>https://www.chem17.com/st505693/list_2311463.html 
https://www.chem17.com/st505693/product_36516923.html