梅特勒超微量天平

梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU（超）微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。
详细介绍
XS Microbalances
XS微量天平
具有*可读*的双量程技术。
1μg可读*，1μg重复*，zui大秤量为800 mg
小于0.8ug的重复*对于获得更优称量可靠*来说至关重要的。XS微量天平可减少不必要的重复测试以及对昂贵样品的浪费，同时可保证在称量zui小的微量样品时也具有准确的称量结果。
可再现的结果
易于操作
具有可定制化的XS触摸终端可确保操作更加简单、直观及无差错。
易于操作
用户指导过程管理
梅特勒-托利多的LabX®实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的SOP用户指南。利用自动数据处理、计算和报告，具有LabX软件的天平可以轻松实现过程安全*和可追溯*要求，并支持您实现无纸化实验室。
用户指导过程管理
扩展更加智能
每个XS微量天平可以根据应用要求进行优化。即使在恶劣的称量条件下，U型去静电装置电极等配件依然可确保您称量结果的准确*与再现*。
梅特勒超微量天平
http://www.chem17.com/st303830/erlist_1101401.html 
http://www.chem17.com/st303830/product_19762115.html