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热电LC-MS的技术说明

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更新: 2020-05-14 14:22
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公司基本资料信息
 
 
热电LC-MS的专有技术:  
1、脉冲Q裂解待删除信息对低质量端离子的捕获能力。  
2、已获自动增益控制(AGC)保证任何扫描方式下离子阱都充满的离子数量。  
3、动态排除待删除信息离子强度较低的各类离子也有机会进行二级质谱和多级质谱数据采集。  
4、宽带激发技术WideBandActivationTM能够生成更多的结构信息数据。  
5、规一化碰撞能技术NCETM消除离子阱质谱仪二级质谱实验中的质量歧视效应,使不同仪器产生数据具有重现X。  

热电LC-MS的系统功能:  
1、多重检测提高了整体系统工作周期的效率,能够更好的与UHPLC兼容,并在Orbitrap进行同时检测之前收集并保存多种母离子。  
2、集成式四极杆质量过滤器实现前体离子选择X。在OrbitrapHR/AM检测之前,MS/MS碎裂过程发生在能量更高的碰撞诱导解离(HCD)池中.  
3、新型C-Trap离子光学系统和HCD碰撞池提供了快速HCDMS/MS扫描并改善了低质量数离子的传递,从而提高灵敏度和定量X能,尤其适用于使用同位素标签的实验。

热电LC-MS能够在单次分析中鉴定、定量和确认复杂混合物中更多痕量级的代谢物、污染物、肽类和蛋白质。与其它技术不同的是,该系统能够在不影响MS/MS灵敏度、质量分辨率或定量重现X的情况下,获得极其可靠的分析结果。  

更多产品信息来源:http://www.chem17.com/st377393/erlist_1631615.html 
http://www.chem17.com/st377393/product_29339557.html 
 
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